ပါဝါစွမ်းအား ယူနစ် ပျက်စီးခြင်း၏ အကြောင်းရင်းများမှာ အဘယ်နည်း။

အပူလေးနက်မှု – ပါဝါစွမ်းအား ယူနစ် ပျက်စီးမှုကို အများဆုံး အရ бы ဖော်ပေးသည့် အကြောင်းရင်း

ဖုန်မှုန်များ စုပုံလာခြင်းနှင့် လေစီးကောင်းမှု ကောင်းစေရန် အတားအဆီးဖော်ပေးခြင်းတို့ကြောင့် အရေးကြီးသည့် အစိတ်အပိုင်းများ ပူလေးနက်လာခြင်း

ဖုန်မှုန်များသည် ကျွန်ုပ်တို့ အထူးဂရုစိုက်သည့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများ (ဥပမါ- ကာပါစီတာများ၊ MOSFET များနှင့် ထရာန်စ်ဖော်မာများ) ၏ ပူပိုင်းကို အေးမေးသည့် အထုပ်အဖုံးကဲ့သို့ အလုပ်လုပ်ပါသည်။ လေစီးကောင်းမှု မကောင်းသည့်အခါ (ဥပမါ- လေဝင်ပေါက်များ ပိတ်နေခြင်း၊ ဖန်သီးများ အလုံအလောက် မကြီးခြင်း သို့မဟုတ် ကိုယ်ထည်ဒီဇိုင်း မကောင်းခြင်း) တွင် အစိတ်အပိုင်းများသည် ထုတ်လုပ်သူများက လုံခြုံသည်ဟု ဖော်ပြထားသည့် အပူချိန်ထက် အပူချိန် ၁၀ ဒီဂရီမှ ၂၀ ဒီဂရီအထိ ပိုမိုပူလေးနက်လာတတ်ပါသည်။ အင်ဂျင်နီယာများသည် နှစ်ပေါင်းများစွာကြာအောင် အသုံးပြုလာသည့် Arrhenius မော်ဒယ်အရ အစိတ်အပိုင်းများသည် သမျှတသည့် အပူချိန်ထက် ၁၀ ဒီဂရီပိုမိုပူလေးနက်နေပါက အသက်တာသည် အနက်တစ်ဝက်အထိ လျော့နည်းသွားပါသည်။ ဤသည်ကို လေဝင်ပေါက်များ မကောင်းသည့်နေရာများ သို့မဟုတ် ဖုန်မှုန်များ များပြားသည့်နေရာများတွင် မှန်ကန်စွာ တွေ့ရလေ့ရှိပါသည်။ အပူချိန်ကို လျှော့ချရန် ကြိုးပုံသည့် ဖန်သီးများသည် ဤအခြေအနေများတွင် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ အကောင်အကွင်း မှန်ကန်စွာ အလုပ်လုပ်နိုင်မှု လျော့နည်းလာပါသည်။

အပူချိန်မြင့်မြင့်တွင် အခြေခံကာပါစီတာများနှင့် MOSFET များ ပျက်စီးလာခြင်း

အီလက်ထရောလိုက်ကာပါစီတာများသည် အဓိကအားဖဲ့ အီလက်ထရောလိုက်အရည် အငွေ့ပေါ်ခြင်းနှင့် အနိုဒ်အောက်ဆိုဒ်အလွှာပါးလေးခြင်းတို့ကြောင့် ပျက်စီးလာပါသည်။ ထိုသို့သော အပူချိန်မြင့်မြင့်တွင် အမျှတန်းအီအက်စ်အာ (ESR) သည် ၃၀၀% အထိ တိုးတက်လာနိုင်ပါသည်။ MOSFET များသည် စီးလ်စ်အောက်ဆိုဒ်အလွှာပျက်စီးမှုကြောင့် ၈၅°C အထက်တွင် အန္တရာယ်ရှိပါသည်။ ထိုသို့သော အခြေအနေများသည် မှုန်းခြင်းနှင့် အပူချိန်မြင့်မြင့်တွင် ထိန်းချုပ်မှုမရှိခြင်းတို့ကို ဖော်ပေးပါသည်။ ထိုအဖြစ်နှစ်များသည် အောက်ပါ အရေးကြီးသော ပျက်စီးမှုများကို ဖော်ပေးပါသည်။

• ကာပါစီတာများ ဖောင်းပေါ်ခြင်း သို့မဟုတ် အရည်များ ထုတ်လုပ်ခြင်း ၊ ထိုသို့သော ဖောင်းပေါ်မှုသည် အသုံးဝင်သော ကာပါစီတန့်အရေးအသားကို လျော့နည်းစေပြီး ဗို့အားထိန်းညှိမှုကို မတည်မြဲစေပါသည်
• MOSFET အပူချိန်ထိန်းချုပ်မှုဆုံးရှုံးမှု ၊ ထိုသို့သော အခြေအနေများသည် ထိန်းချုပ်မှုမရှိသော လျှပ်စီးကြောင်းများကို ဖော်ပေးပါသည်။ ထိုသို့သော လျှပ်စီးကြောင်းများသည် အထွက်အားကို မတည်မြဲစေပါသည်

စက်မှုလုပ်ငန်းများတွင် အလုပ်လုပ်မှုအပိုင်းများသည် အများအားဖဲ့ အပူချိန်မြင့်မြင့်တွင် အလုပ်လုပ်ရသည်။ ထိုသို့သော အခြေအနေများတွင် အသုံးပြုနိုင်သော PSU အသက်တာသည် သုံးနှစ်အောက်သို့ ကျဆင်းသွားနိုင်ပါသည်။ ထိုသို့သော အခြေအနေများသည် ဗို့အားနှင့် လျှပ်စီးကြောင်းအတိုင်းအတာများကို အတည်ပြုထားသည်ဖြစ်စေကာမျှ ဖြစ်ပါသည်။

ကာပါစီတာပျက်စီးမှု – ပါဝါစပ်လိုင်းယူနစ် (PSU) ၏ အသက်တာကို အဓိကအားဖဲ့ အားနည်းခြင်း

အီလက်ထရောလိုက်ကာပါစီတာများ၏ အသက်ကြီးမှု – ESR တိုးတက်ခြင်း၊ ရှို့ထုတ်မှုများနှင့် လက်တွေ့ဘဝတွင် အသက်တာအကန့်အသတ်များ

အီလက်ထရောလိုက်တစ်ခု၏ အသက်ကြီးလာမှုဖြစ်စဉ်ကို နှစ်ပေါင်းများစွာကြာအောင် အကောင်းစွာ လေ့လာခဲ့ကြပါသည်။ အပူချိန်မြင့်တက်လာသည့်အခါ အတွင်းဘက်ရှိ အီလက်ထရောလိုက်သည် ပိုမိုမြန်ဆန်စွာ အငွေ့ပေါ်လာပြီး ကာကွယ်ရေးအောက်ဆိုဒ်အလွှာသည် ပျက်စီးသွားပါသည်။ ဤအခြေအနေသည် ပြဿနာနှစ်ရပ်ကို ဖော်ပေါ်စေပါသည်။ အဓိကမှာ အမျှတန်ဖိုးအီလက်ထရစ် အနုတ်အား (ESR) တိုးတက်လာခြင်းနှင့် မှုန်းထွက်စီးဆင်းမှု (leakage current) ပိုမိုမြင့်မားလာခြင်းတို့ဖြစ်ပါသည်။ ထို့နောက် ဖြစ်ပေါ်လာမည့်အရာများသည် အင်ဂျင်နီယာများအတွက် စိုးရိမ်ဖွယ်ရာဖြစ်ပါသည်။ ESR တိုးတက်မှုကြောင့် ပိုမိုမြင့်မားသော အပူချိန်များ ထုတ်လုပ်လာပြီး အသက်ကြီးလာမှုဖြစ်စဉ်ကို ပိုမိုမြန်ဆန်စွာ အရှိန်မြင့်ပေးပါသည်။ IEC 60384-1 နှင့် JEDEC စံနှုန်းများကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းလေ့ကျင့်ခြင်းစံနှုန်းများအရ သတ်မှတ်ထားသည့် အပူချိန်ထက် စင်တီဂရိတ်အပူချိန် ၁၀ ဒီဂရီ ပိုမိုမြင့်တက်လာပါက ကာပေးစီတာ၏ သက်တမ်းသည် တစ်ဝက်သို့ လျော့ကျသွားပါသည်။ ဥပမါအားဖြင့် စင်တီဂရိတ်အပူချိန် ၈၅ ဒီဂရီတွင် အများဆုံးစွမ်းအားဖြင့် အပူချိန်မြင့်မားစွာ အလုပ်လုပ်နေသည့် ပုံမှန်ကာပေးစီတာတစ်ခုသည် အလွန်တိုတောင်းသော သက်တမ်းသာရှိပါသည်။ အောက်ပါအတိုင်း အပူချိန်မြင့်မားစွာ အလုပ်လုပ်နေပါက ၂၀၀၀ နှစ်ကြာခြင်း (သို့မဟုတ် ၈၃ ရက်ခန့်) အကြာတွင် လုံးဝပျက်စီးသွားပါမည်။ စင်တီဂရိတ်အပူချိန် ၁၀၅ ဒီဂရီအထိ သက်တမ်းရှိသည့် ကာပေးစီတာတစ်ခုသို့ ပြောင်းလဲပေးပါက သက်တမ်းသည် ၁၀၀၀၀ နှစ်အထိ ၅ ဆ ပိုမိုရှည်လာပါမည်။ သို့သော် ဤအချက်သည် ကာပေးစီတာအတွင်းတွင် ဖြစ်ပေါ်နေသည့် အခြေခံအားဖြင့် ပျက်စီးမှုဖြစ်စဉ်များကို ရပ်တန်းစေခြင်းမှာ မဟုတ်ပါ။ အများအားဖြင့် နည်းပညာပုဂ္ဂိုလ်များသည် ESR တန်ဖိုးများသည် မူလတန်ဖိုးများထက် သုံးဆထက် ပိုမိုမြင့်မားလာသည့်အခါ အထူးသတိထားကြပါသည်။ အကူးအပြောင်းဖြစ်ပါက ဗို့အားထိန်းညှိရေးစနစ်များသည် ပုံမှန်အားဖြင့် ပျက်စီးသွားပြီး စက်ပစ္စည်းများအတွင်းရှိ အခြားနေရာများတွင် ပျက်စီးမှုများ မဖြစ်ပေါ်စေရန်အတွက် ပါဝါဖောက်နီစီများသည် အလိုအလျောက် ပိတ်သွားပါသည်။

စျေးသက်သာသော ပါဝါစွမ်းအား ပေးစက်များတွင် အရည်အသွေးနိမ့်သော ကာပေးစီတာများ အသုံးပြုခြင်း၏ အန္တရာယ်များ

စျေးသက်သာသော PSU များတွင် အရည်အသွေးနိမ့်သော အီလက်ထရောလိုက်များ၊ ပိုမိုပေါ့ပါးသော အနောဒိုက်ဖ်လိုင်များနှင့် ပိုမိုလွတ်လွတ်လေးလေး ထုတ်လုပ်မှု အတွင်း အမှားအမှင်များကို အသုံးပြုလေ့ရှိပါသည်။ အတူတူသော ဘာရ်အော်ဒ်တွင် ဤအစိတ်အပိုင်းများသည် စက်မှုလုပ်ငန်းအဆင့် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်လျှင် ပျက်စီးမှုနှုန်း ၄ ဆ ပိုမြန်ပါသည်။ ၈၅% အထက် ဘာရ်အော်ဒ်တွင် အောက်ပါအတိုင်း ဖော်ပြပါသည်။

• အတွင်းပိုင်းဖိအား တိုးမြင့်မှုကြောင့် ဖောင်းပေါက်ခြင်း သို့မဟုတ် ဖောင်းပေါက်ခြင်း ဖြစ်နိုင်ခြင်း အခြေအနေ ၄၀% ပိုများခြင်း
• လျှပ်စစ်ဓာတ်ငွေ့ပြန့်ကျဲမှု၏ ဖြစ်နိုင်ခြေ ၆၀% ပိုများသည်
• ATX သတ်မှတ်ချက်များ၏ ကန့်သတ်ချက်များကို ၃.၂x ကျော်သော လှိုင်းအား

အချိန်မမှီ ကျရှုံးမှုတွေကလည်း ပိုမြန်ပါတယ်။ ကိန်းဂဏန်းတွေကို ကြည့်လိုက်ပါ- ဘတ်ဂျက်သုံး စွမ်းအင် ထောက်ပံ့မှု ၉၂ ရာခိုင်နှုန်းဟာ သုံးနှစ်အတွင်းမှာ ပျက်စီးသွားကြပါတယ်၊ အရည်အသွေးပိုကောင်းတဲ့ capacitors တွေနဲ့ ထုတ်လုပ်ထားတာက ၇ နှစ် ဒါမှမဟုတ် ပိုကြာပါတယ်။ ဒါပေမဲ့ တကယ်ကို စိုးရိမ်စရာက ပြဿနာတွေ ဘယ်လို ပျံ့နှံ့နိုင်တာပါ။ capacitors တွေ ပျက်စီးလာတဲ့အခါမှာ အခြားအစိတ်အပိုင်းတွေကို ထိခိုက်စေတဲ့ voltage spikes တွေကို ဖြစ်စေပါတယ်။ PC Hardware Reliability Consortium မှ ကွင်းဆင်း အစီရင်ခံစာများတွင် မော်ဒါဘုတ်များနှင့် SSD များအား ပျက်စီးသွားသော ကိစ္စများအား ပြသထားသည်။

အအေးပေးစနစ် ပျက်စီးမှု: လျှပ်စစ်ဓာတ်အားပေးစက်များတွင် လေအိုးပျက်စီးခြင်းနှင့် စက်ပစ္စည်းအဝတ်လျှော်ခြင်း

အေးစက်စနစ်ပြဿနာများသည် ပါဝါစွမ်းအားပေးစနစ်များ သက်တမ်းပိုမိုတိုတောင်းစေရန် အဓိကအကြောင်းရင်းများအနက် တစ်ခုအဖြစ် ထင်ရှားစေပါသည်။ အတွင်းဘက်တွင် ဖုန်များစုပုံလာပါက လေစီးဆင်းမှုကို အဟန့်အတားဖြစ်စေပါသည်။ ထိုအချိန်တွင် အသုံးပေးပြီးသော ဖန်အေးစက်များ၏ ဘေရားများ (အထူးသဖြင့် အဟောင်းဖြစ်သော စလေးဖ်အမျိုးအစားများ) သည် ပိုမိုထိရောက်မှုနည်းပါးစွာ လည်ပတ်လာပြီး စတေတစ်ပရက်ရှား (static pressure) ကို လျော့နည်းစေပါသည်။ ဤပြဿနာများသည် အရေးကြီးသော အစိတ်အပိုင်းများကို အပူဒဏ်အမြဲတမ်းခံစေရန် ဖော်ဆောင်ပါသည်။ ကာပါစီတာများသည် အီလက်ထရောလိုက် (electrolyte) ကို ပိုမိုမြန်စွာ ဆုံးရှုံးပါသည်။ MOSFET ဂိတ်အောက်ဆိုဒ်များသည်လည်း ဤအခြေအနေများအောက်တွင် ပိုမိုမြန်စွာ ပျက်စီးပါသည်။ ထို့နောက် ဖြစ်ပေါ်လာသည့်အရာများသည် အကြောင်းအမျိုးမျိုးဖြင့် အကြောင်းအကြောင်းဆက်စပ်သော အကြောင်းအမျိုးမျိုးဖြစ်ပါသည်။ အပူချိန်များ ပိုမိုမြင့်တက်လာသည်နှင့်အမျှ ဖုန်များသည် ပိုမိုကြံ့ခStrength စွာ ကပ်နေပါသည်။ ထိုအချိန်တွင် ဖန်အေးစက်များသည် ပိုမိုကြိုးစားရပါသည်။ နောက်ဆုံးတွင် ဘေရားများသည် လုံးဝမလည်တော့ခြင်း (lock up) သို့မဟုတ် ဝိုင်န်ဒင်းများသည် လုံးဝပျက်စီးခြင်း (give out completely) တို့ကို ဖော်ဆောင်ပါသည်။ သံမှုန်များ သို့မဟုတ် ဆားငန်သောလေကို ကြုံတွေ့နေရသည့် စက်ရုံများတွင် ဤပြဿနာများသည် ပိုမိုဆိုးရောင်းပါသည်။ ဤညစ်ညမ်းမှုများသည် အစိတ်အပိုင်းများ၏ ပျက်စီးမှုကို မြန်ဆန်စေပါသည်။ ဖန်အေးစက်များ၏ ပျက်စီးမှုအများစုသည် အသံအေးစက်များဖြစ်ပါသည်။ အထူးသဖြင့် RPM နိမ့်သော အသုံးပေးသည့် အသစ်များတွင် ဖော်ပြပါသည်။ ထို့ကြောင့် လေဝင်ပေါက်များကို ပုံမှန်စွေးစမ်းခြင်းနှင့် ဖန်အေးစက်များ၏ ပုံမှန်အသံများကို နားထောင်ခြင်းသည် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။ အများအားဖြင့် အေးစက်စနစ်၏ အားနည်းမှုကို ရက်ပေါင်းများစွာ သို့မဟုတ် လေးများစွာကြာအောင် မသိဘဲ ရှိနေပါသည်။ ထို့နောက် အရေးကြီးသော အပူချိန်များကြောင့် အရေးပေါ်အပူချိန်ကုန်းခြင်း (sudden thermal shutdown) ဖြစ်ပါသည်။

ပါဝါစွမ်းအား ထောက်ပံ့ရေးယူနစ်များတွင် ကာကွယ်မှုမလ sufficiently နှင့် သဘောတရားပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ အားနည်းချက်များ

အလွန်အမင်းဗို့အား၊ အလွန်အမင်းလျှပ်စီးကြောင်းနှင့် ကုန်းတွင်းလျှပ်စီးကြောင်း (အထူးသဖြင့် စျေးနောက်ဆုံးအဆင့် PSUs များတွင်) ကာကွယ်မှုတွင် အကွာအဝေးများ

ဝင်ငွေအဆင့် စွမ်းအင် ထောက်ပံ့မှု အများစုဟာ ဒီကျပ်တည်းတဲ့ ဈေးနှုန်းတွေကို ထိဖို့ ကာကွယ်ရေး ပတ်လမ်းတွေကို ဖြတ်တောက်ပေးပြီး ဒါက လက်တွေ့ကမ္ဘာသုံးမှာ ဘယ်လောက် ယုံကြည်မှုရှိတာကို တကယ် သက်ရောက်စေတယ်။ UL 62368-1 စံတွေနဲ့အတူ ကျွန်တော်တို့ရဲ့ ကိုယ်ပိုင် PC Gaming Hardware Institute မှာ လုပ်ခဲ့တဲ့ စမ်းသပ်မှုတွေအရ ဘတ်ဂျက် PSU ပြဿနာတွေရဲ့ ၄၀% လောက်ဟာ အခြေခံလုံခြုံရေးအချက်အလက်တွေကို လွှမ်းမိုးတဲ့ လျှပ်စစ် အပြောင်းအလဲတွေကြောင့်ပါ။ မှန်ကန်တဲ့ TVS diode တွေမရှိရင် ပိုဝေးတဲ့ အပိုင်းအစတွေဟာ voltage spike ရှိတဲ့အခါမှာ မီးလောင်သွားပါတယ်။ ပြီးတော့ ဒီရိုးရှင်းတဲ့ လျှပ်စစ်လျှပ်စီးကာကွယ်မှုတွေကရော။ ရုတ်တရက် လျှပ်စစ်စီးဆင်းမှု အရှိန်မြင့်လာတဲ့အခါမှာ အရာတွေ ပိတ်မိတာကို တားဆီးဖို့ သူတို့ မလျင်မြန်စွာ တုံ့ပြန်တာ (သို့) အချိန်ဆွဲမှု ပုံစံကို မတည်ဆောက်တာပါ။ ရှော့ချ်တွေ ဖြစ်တဲ့အခါ ဒီစျေးပေါတဲ့ PSU တွေဟာ စွမ်းအင်ကို မှန်ကန်စွာ ထိန်းချုပ်လို့မရဘူး။ နောက်ဖြစ်ပျက်တာကလည်း သိပ်မကောင်းပါဘူး။ capacitors တွေက ပေါက်လာတယ်၊ MOSFET တွေ ပေါက်ကွဲတယ်၊ တစ်ခါတစ်လေမှာ PCB အရိပ်အယောင်တစ်ခုလုံးဟာ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု အဆုံးသတ် မပိတ်ခင် မီးခိုးထဲမှာ ပျောက်ကွယ်သွားတယ်။ ဒီလမ်းတိုအားလုံးက သေးငယ်တဲ့ ပြဿနာတွေ ဖြစ်လောက်တာတွေကို ပြင်ဆင်တာထက် အစားထိုးဖို့လိုတဲ့ စနစ်ပြိုကွဲမှုတစ်ခုအဖြစ် ပြောင်းပစ်တယ်။

လျှပ်စစ်သိုင်းခေါက်မှု ထိတွေ့မှု၊ စိုထုံးမှု ကူးစက်မှုနှင့် အမှန်တကယ်ဖြစ်ပေါ်နေသော လျှပ်စစ်ဓားပေါ် မတည်မငြိမ်မှု ဒေတာများ

PSU အားခံနိုင်မှုသည် ၎င်းတွင် လက်ခံကုန်သည့် ပါဝါပမာဏ မည်မျှမျှရှိစေကာမျှ ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ အချက်များကြောင့် ထိခိုက်မှုကို ခံရပါသည်။ စိုထိုင်းမှု ပါဝင်လာသည့်အခါ ဆော်ဒာဂျွန်းများ၊ ထရာန်စ်ဖော်မာများပေါ်ရှိ ဝိုင်န်ဒင်းကွိုင်လ်များနှင့် ဟီট်စင့်ခ်များ တပ်ဆင်ရာနေရာများကဲ့သို့သော အရေးကြီးသော နေရာများကို စားသုံးလာပါသည်။ စမ်းသပ်မှုများအရ ဤကဲ့သို့သော အရွှေးစားမှုသည် လုပ်ငန်းလုပ်ဆောင်မှု စံနှုန်းများအရ ပုံမှန်ထက် လျော့နည်းသည့် လျှပ်စီးကြောင်း ခုခံမှုကို သုံးဆအထိ တိုးမောင်းနိုင်ပါသည်။ ထိုအချိန်တွင် မှုန်မှုန်လေးများ အနည်းငယ်သာ စုပုံလာခြင်း (အမျှင်မှုန်အထိ အထူ) သည်ပင် အစိတ်အပိုင်းများ၏ အပူချိန်ကို ၎င်းတို့၏ အသုံးပြုခွင့်ပေးထားသည့် အပူချိန်ထက် ပိုမိုမြင့်မောင်းနိုင်ပါသည်။ ပါဝါဂရစ်ပြဿနာများသည် အခြေအနေကို ပိုမိုဆိုးရွှေးစေပါသည်။ IEEE မှ မက်ထရိုပေါ်လစ်တန် အစီရင်ခံစာများအရ မြောက်အမေရိကတွင် ရှိသော စက်ရုံများသည် နှစ်စဥ် ဗို့အား တက်ခြင်း ၈၃ ကြိမ်ခန့်ကို ကိုင်တွယ်ရပါသည်။ ကောင်းမွန်သော ကာကွယ်ရေးအလွှာများ (MOV ကိရိယာများသည် ဂါစ်ဒစ်ချာဂ် တျူဘ်များနှင့် TVS ဒိုင်အိုဒ်များနှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုသည့်အခါ အလွန်ကောင်းမွန်ပါသည်) မရှိပါက ဤဖိအားများသည် PSU ၏ အဓိကအစိတ်အပိုင်းများကို တိုက်ရိုက်ထိခိုက်စေပါသည်။ လုပ်ငန်းလုပ်ဆောင်မှုဆိုင်ရာ သုတေသနများအရ ဤပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စီးကြောင်းဆိုင်ရာ ပြဿနာများသည် အလယ်အလတ်အရွယ် ထုတ်လုပ်မှုစက်ရုံများတွင် ပျက်စီးသော ပစ္စည်းများအတွက် နှစ်စဥ် ၇၄၀,၀၀၀ ဒေါ်လာခန့် ကုန်ကျစေပါသည်။ ထိုပျက်စီးမှုများအနက် အများစုသည် ကောင်းမွန်သော ကာကွယ်မှုများ လုံးဝမရှိခြင်း သို့မဟုတ် အနည်းငယ်သာ ရှိခြင်းကြောင့် ဖြစ်ပါသည်။

မေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ

ပါဝါစပလိုင်းယူနစ် (PSU) မှုန်းနေမှုများကို အဘယ်ကြောင့်ဖြစ်ပေါ်သနည်း။

PSU မှုန်းနေမှုများကို အပူဖိအား၊ ဖုန်စုပုံမှု၊ လေစီးဆင်းမှုကို ကန့်သတ်ခြင်း၊ ကပ်စီတာများနှင့် MOSFET များ အားနည်းလာခြင်း၊ အေးမှုစနစ်များ မလ sufficiently ဖြစ်ခြင်း၊ စျေးသက်သာသော PSU များတွင် အရည်အသွေးနိမ့်သော အစိတ်အပိုင်းများ အသုံးပြုခြင်း၊ ကာကွယ်ရေးစီးကရ်ကျူများ မလုံလောက်ခြင်းနှင့် စိုထုံးမှုနှင့် လျှပ်စစ်လှိုင်းများ ထိရောက်မှုကဲ့သို့သော ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ အချက်များမှ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ပါသည်။

ဖုန်သည် PSU အော်ပရေးရှင်းကို မည်သို့အနေဖြင့် ထိခိုက်စေသနည်း။

ဖုန်သည် အပူကို ဖမ်းထားသည့် အထုပ်အဖုံးအဖြစ် အလုပ်လုပ်ပြီး အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများ ပူပွန်းလာစေသည်။ ထိုသို့ဖြစ်ခြင်းက အစိတ်အပိုင်းများ၏ ပုံပေါ်မှုကို မြန်ဆန်စေပြီး PSU ၏ သက်တမ်းကို လျော့နည်းစေသည်။

PSU များတွင် အရည်အသွေးနိမ့်သော ကပ်စီတာများကို အသုံးပြုခြင်း၏ အန္တရာယ်များမှာ အဘယ်နည်း။

စျေးသက်သာသော PSU များတွင် အများအားဖြင့် အသုံးပြုသည့် အရည်အသွေးနိမ့်သော ကပ်စီတာများသည် ဖောင်းပေါက်ခြင်း သို့မဟုတ် အရည်စိမ်းထွက်ခြင်းများ ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အခြားအစိတ်အပိုင်းများကို ပျက်စီးစေနိုင်သည့် ဗို့အားမြှင့်တင်မှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်ပါသည်။ ထိုကပ်စီတာများသည် စက်မှုအဆင့် ကပ်စီတာများထက် လေးဆမျော်လောက် မှုန်းနေမှုများ ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။

ဖန်မှုန်းနေမှုသည် PSU ကို မည်သို့အနေဖြင့် ထိခိုက်စေသနည်း။

ဖန်မှုန်းနေမှုသည် လေစီးဆင်းမှုကို လျော့နည်းစေပြီး အစိတ်အပိုင်းများပေါ်တွင် အပူဖိအားကို အဆက်မပြတ် ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ ထိုသို့ဖြစ်ခြင်းက အစိတ်အပိုင်းများ၏ အားနည်းလာမှုကို မြန်ဆန်စေပြီး အပူဖိအားကြောင့် အလိုအလျောက် ပိတ်သွားမှုများ ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်ပါသည်။

စျေးသက်သာသော PSU များတွင် မည်သည့် အားနည်းချက်များ ရှိပါသည်။

အဆင့်နိမ့် PSU များသည် ဗို့အားများခြင်း၊ လျှပ်စီးကြောင်းများခြင်းနှင့် ကုန်းတွင်းချို့ယွင်းမှုကာကွယ်ရေးများ မလ sufficiently ရှိခြင်းကြောင့် လျှပ်စစ်အချိန်ပေါ်ပေါက်မှုများအောက်တွင် ပျက်စီးလွယ်သည်။